Ar&Ge çalışmamızı, 26. IEEE Sinyal İşleme ve Uygulamaları Kurultayı’nda...

Ar&Ge çalışmamızı, 26. IEEE Sinyal İşleme ve Uygulamaları Kurultayı’nda...

Lehim boşluklarının tespiti için hazırladığımız “Düşük Çözünürlüklü X-Işını Görüntüleri için Baskılı Devre Kartlarında Alttan Sonlandırmalı Elemanlarda Oluşabilecek Lehim Boşluklarının Tespiti” konu başlıklı Ar&Ge çalışmamızı, 26. IEEE Sinyal İşleme ve Uygulamaları Kurultayı'nda başarıyla sunduk.

14-05-2018